光学学报, 2006, 26 (6): 841, 网络出版: 2006-06-13   

光学系统像差与光场干涉对激光参量测量精度的影响

Influence of Optical Interference and System Aberration on Laser Beam Parameter Measurement Precision
作者单位
北京理工大学光电工程系, 北京 100081
摘要
研究了采用面阵CCD探测器测量光束参量的技术问题,研制了一套高精度激光参量测量系统,对其光学系统像差与光场干涉原因进行了理论分析,实验测量了连续抽运1064nm固体模式发生器产生的基模厄米高斯光束,分析对比了其输出光束带有干涉条纹时对测量精度的影响,对光学系统的设计提出了具体技术要求,为同类装置的研制提供了参考依据。
Abstract
The technical problems concerning the parameter measurement of the laser beam by using a CCD array is studied. A high-precision system for laser beam parameter measurement is developed. Its aberrations and optical interferences are analyzed in theory, and the laser beam with fundamental Gaussian mode by continuous a LD-pumped, solid-state mode generator with 1064 nm is measured. The influence of the beam output with different interference patterns on measurement precision is analyzed and compared with theoretical estimation. Then, the technical requests for designing the optical system are brought up, which provides reference for developing the similar instrument.

高雪松, 高春清, 于竞, 李家泽, 魏光辉. 光学系统像差与光场干涉对激光参量测量精度的影响[J]. 光学学报, 2006, 26(6): 841. 高雪松, 高春清, 于竞, 李家泽, 魏光辉. Influence of Optical Interference and System Aberration on Laser Beam Parameter Measurement Precision[J]. Acta Optica Sinica, 2006, 26(6): 841.

本文已被 3 篇论文引用
被引统计数据来源于中国光学期刊网
引用该论文: TXT   |   EndNote

相关论文

加载中...

关于本站 Cookie 的使用提示

中国光学期刊网使用基于 cookie 的技术来更好地为您提供各项服务,点击此处了解我们的隐私策略。 如您需继续使用本网站,请您授权我们使用本地 cookie 来保存部分信息。
全站搜索
您最值得信赖的光电行业旗舰网络服务平台!