红外与毫米波学报, 2006, 25 (2): 153, 网络出版: 2006-07-05
用于低温半导体器件筛选的新型温度循环设备
NOVEL THERMAL CYCLE SCREENING EQUIPMENT FOR CRYOGENIC SEMICONDUCTOR COMPONENTS WU Li-Gang LIU Da-Fu ZHU San-Gen WU Jia-Rong HONG Si-Min GONG Hai-Mei
摘要
在某些情况下斯特林制冷机采用间歇式工作方式,以延长卫星在太空中的服务年限,因此由斯特林机致冷的低温半导体器件如HgCdTe中长波红外探测器会经受成千上万次从-173℃以下到常温的温度循环,这个过程可能会造成器件的失效.为了研究器件的失效机理和可靠性,帮助筛选器件,本文介绍了一种自制新型的温度循环实验设备,型号TCE-a.经过数千次温度循环,设备满足器件筛选实验要求.
Abstract
吴礼刚, 刘大福, 朱三根, 吴家荣, 洪思敏, 龚海梅. 用于低温半导体器件筛选的新型温度循环设备[J]. 红外与毫米波学报, 2006, 25(2): 153. 吴礼刚, 刘大福, 朱三根, 吴家荣, 洪思敏, 龚海梅. NOVEL THERMAL CYCLE SCREENING EQUIPMENT FOR CRYOGENIC SEMICONDUCTOR COMPONENTS WU Li-Gang LIU Da-Fu ZHU San-Gen WU Jia-Rong HONG Si-Min GONG Hai-Mei[J]. Journal of Infrared and Millimeter Waves, 2006, 25(2): 153.
PDF全文
