强激光与粒子束, 2006, 18 (3): 455, 网络出版: 2006-10-19
合肥储存环电子束流寿命分析
Analysis of the beam lifetime in hefei storage ring
摘要
电子束流寿命是个很重要的指标,直接影响合肥光源的正常运行,为此研究了影响束流寿命的因素,测量了高频腔压、耦合度以及束团长度对电子束流寿命的影响,研究显示合肥储存环的电子束流真空寿命和托歇克寿命相当;并且利用束损系统测量了因托歇克寿命的变化而造成束流损失的相对变化;通过增加耦合度增加束流的垂直发射度,有效地提高了束流的寿命,保证了合肥光源的正常运行.
Abstract
徐宏亮, 张剑锋, 黄贵荣, 孙葆根, 李珏忻, 何多慧. 合肥储存环电子束流寿命分析[J]. 强激光与粒子束, 2006, 18(3): 455. 徐宏亮, 张剑锋, 黄贵荣, 孙葆根, 李珏忻, 何多慧. Analysis of the beam lifetime in hefei storage ring[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2006, 18(3): 455.
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