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合肥储存环电子束流寿命分析

Analysis of the beam lifetime in hefei storage ring

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摘要

电子束流寿命是个很重要的指标,直接影响合肥光源的正常运行,为此研究了影响束流寿命的因素,测量了高频腔压、耦合度以及束团长度对电子束流寿命的影响,研究显示合肥储存环的电子束流真空寿命和托歇克寿命相当;并且利用束损系统测量了因托歇克寿命的变化而造成束流损失的相对变化;通过增加耦合度增加束流的垂直发射度,有效地提高了束流的寿命,保证了合肥光源的正常运行.

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补充资料

中图分类号:TL503.2

所属栏目:加速器技术

基金项目:中科院创新项目资助课题

收稿日期:2005-10-24

修改稿日期:2006-01-25

网络出版日期:2006-03-15

作者单位    点击查看

徐宏亮:中国科学技术大学,国家同步辐射实验室,合肥,230029
张剑锋:中国科学技术大学,国家同步辐射实验室,合肥,230029
黄贵荣:中国科学技术大学,国家同步辐射实验室,合肥,230029
孙葆根:中国科学技术大学,国家同步辐射实验室,合肥,230029
李珏忻:中国科学技术大学,国家同步辐射实验室,合肥,230029
何多慧:中国科学技术大学,国家同步辐射实验室,合肥,230029

备注:徐宏亮(1964-),男,安徽无为人,副教授,从事加速器物理及技术研究;hlxu@ustc.edu.cn.

【1】Lee T Y,Kim M G,Park E S.Analysis of the Touschek lifetime and its application to the Pohang Light Source[J].Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A,2002,489:38-44.

【2】Wiedemann H.Particle Accelerator Physics[M].Belin Herdelberg:Springer-Verlag,1993.

【3】Ng KY.Physics of collective beam instabilities[D].New York:US Particle Accelerator School,2000:177-181.

【4】Ellison J A,Shih H J.Theoretical Study of longitudinal Beam Splitting and Related Phenomena[J].Phys Rev E,1994,49:2484-2487.

【5】Li Y X,Cui Y G.,Li W M,et al.The Beam Loss Monitoring System for HLS Storage Ring[J].Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A,2001,467/468:80-83.

引用该论文

徐宏亮,张剑锋,黄贵荣,孙葆根,李珏忻,何多慧. Analysis of the beam lifetime in hefei storage ring[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2006, 18(3): 455-458

徐宏亮,张剑锋,黄贵荣,孙葆根,李珏忻,何多慧. 合肥储存环电子束流寿命分析[J]. 强激光与粒子束, 2006, 18(3): 455-458

被引情况

【1】孙玉聪,蓝杰钦,张剑锋,徐宏亮,孙葆根. 合肥光源托歇克效应损失电子的探测. 强激光与粒子束, 2011, 23(3): 770-774

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