光子学报, 2006, 35 (3): 0352, 网络出版: 2010-06-03   

反射相移对MEMS滤波器半峰全宽影响分析

Analysis of Reflection Phase Shift's Effect on MEMS-Based Filter's Full Width of Maximum Height
作者单位
1 武汉大学物理系,武汉 430072
2 武汉邮电科学研究院,武汉 430073
摘要
以典型的基于MEMS的FP腔结构为例,用传输矩阵方法推导了考虑反射相移的半峰全宽的解析表达式.利用此解析表达式分别模拟了考虑反射相移的半峰全宽与干涉级次和FP腔两反射镜间距的关系,并将其与不考虑反射相移的半峰全宽进行了对比;同时将反射相移和反射率对半峰全宽的影响进行了比较分析.
Abstract
Analytic expression with the effect of phase shift on reflection for full width of maximum height of a typical MEMS-based FP cavity is deduced by transfer matrix method. The relationship between full width of maximum height and interference order is simulated with the analytic expression,so does the relationship between full width of maximum height and the gap of the two reflectors. And the result is compared with full width of maximum height without considering phase shift on reflection. The effects on full width of maximum height caused by phase shift on reflection and reflection index respectively are discussed too.

殷学会, 李承芳, 吴晓平, 胡强高. 反射相移对MEMS滤波器半峰全宽影响分析[J]. 光子学报, 2006, 35(3): 0352. Yin Xuehui, Li Chengfang, Wu Xiaoping, Hu Qianggao. Analysis of Reflection Phase Shift's Effect on MEMS-Based Filter's Full Width of Maximum Height[J]. ACTA PHOTONICA SINICA, 2006, 35(3): 0352.

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