光子学报, 2004, 33 (5): 598, 网络出版: 2006-10-25
红外焦平面器件盲元检测及补偿算法
摘要
在分析盲元响应特性的基础上,利用红外焦平面阵列对双参考辐射源的响应数据和相邻像元成像数据的相关性,提出了一种基于双参考辐射源的盲元现场自动检测和插值补偿算法,实现了盲元的自动检测和校正.实验结果表明:该方法具有对盲元查找速度快、定位准确率高、补偿效果好及易于软硬件实现等特点.
Abstract
周慧鑫, 殷世民, 刘上乾, 赖睿. 红外焦平面器件盲元检测及补偿算法[J]. 光子学报, 2004, 33(5): 598. 周慧鑫, 殷世民, 刘上乾, 赖睿. [J]. ACTA PHOTONICA SINICA, 2004, 33(5): 598.
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