光电工程, 2005, 32 (4): 63, 网络出版: 2007-11-14   

用ATR法测量晶体的压电系数和电光系数

作者单位
上海交通大学,物理系,上海,200240
摘要
提出了一种测量晶体压电系数和电光系数的新方法.晶体厚度和折射率的变化导致衰减全反射(ATR)谱的同步角发生移动,进而引起反射率的变化.选择两个不同阶导模的工作角,施加电压分别测出反射光强的变化,可得到压电系数和电光系数.反射率相对于厚度和折射率的灵敏度分别可达到108m-1和103.该方法可同时测量压电系数和电光系数,测量灵敏度高,样品结构简单,实验装置简便,所需的测量电压低.
Abstract

尚有魁, 沈启舜, 史坚, 曹庄琪, 杨艳芳. 用ATR法测量晶体的压电系数和电光系数[J]. 光电工程, 2005, 32(4): 63. 尚有魁, 沈启舜, 史坚, 曹庄琪, 杨艳芳. [J]. Opto-Electronic Engineering, 2005, 32(4): 63.

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