光学与光电技术, 2006, 4 (4): 50, 网络出版: 2006-11-02  

Nd:GGG晶体荧光寿命的测试

Testing of Fluorescence Lifetime of Nd:GGG Crystal
作者单位
长春理工大学理学院,长春,130022
摘要
针对Nd:GGG激光器,介绍了荧光寿命测试原理,设计了低频窄脉宽荧光寿命测试系统.该系统由光源、光路系统、驱动电路和探测系统等几部分组成.利用脉冲取样技术测试了Nd:GGG晶体的荧光寿命约为250μs左右.
Abstract

李昌立, 孙晶, 蔡红星, 张喜和. Nd:GGG晶体荧光寿命的测试[J]. 光学与光电技术, 2006, 4(4): 50. 李昌立, 孙晶, 蔡红星, 张喜和. Testing of Fluorescence Lifetime of Nd:GGG Crystal[J]. OPTICS & OPTOELECTRONIC TECHNOLOGY, 2006, 4(4): 50.

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