光学 精密工程, 2004, 12 (1): 118, 网络出版: 2006-11-03   

用Si光电二极管标定软X射线探测器

作者单位
中国科学院,长春光学精密机械与物理研究所,吉林,长春,130033
摘要
为了实现软X射线波段光源相对光谱分布的测量,引进了一种利用新型软X射线波段传递标准探测器-Si光电二极管对软X射线探测器进行标定.标定了软X射线波段光谱测量实验中常用的探测器-通道电子倍增器在放大电压为1.3 kV时的量子效率,并对实验结果进行了分析,得出在8~30 nm波段内探测器标定误差为5.7%~8.9%.
Abstract

曹继红, 尼启良, 陈波. 用Si光电二极管标定软X射线探测器[J]. 光学 精密工程, 2004, 12(1): 118. 曹继红, 尼启良, 陈波. [J]. Optics and Precision Engineering, 2004, 12(1): 118.

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