光子学报, 2007, 36 (1): 47, 网络出版: 2007-05-22
锥形透镜光纤与平面光波光路芯片的耦合实验
Experimental Observation on the Coupling Characteristics of Tapered and Lensed Fiber and Planar Lightwave Circuit Chip
摘要
对锥形透镜光纤(TLF)与半导体多量子阱(MQW)平面光波光路(PLC)芯片的耦合特性进行了实验研究.数值模拟了TLF、普通单模光纤(SMF)分别和PLC芯片脊波导的耦合情形,发现TLF-PLC耦合损耗比SMF-PLC耦合损耗小3.01 dB.测得了TLF的出射光场光斑,分析了出射光场发散范围.建立光纤-PLC芯片耦合实验系统,用放大自发辐射(ASE)宽带光源在1550 nm波长处对比分析了PLC芯片与不同光纤的耦合连接损耗,从而确证最佳方案为TLF-PLC-SMF:即TLF作为入纤,SMF作为出纤时,耦合对准容易实现,损耗为10.798 dB,比TLF-PLC-TLF耦合损耗小4.458 dB.
Abstract
曲舒霆, 刘旭, 孙小菡. 锥形透镜光纤与平面光波光路芯片的耦合实验[J]. 光子学报, 2007, 36(1): 47. 曲舒霆, 刘旭, 孙小菡. Experimental Observation on the Coupling Characteristics of Tapered and Lensed Fiber and Planar Lightwave Circuit Chip[J]. ACTA PHOTONICA SINICA, 2007, 36(1): 47.
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