表面等离子体共振显微术的空间分辨力

吕强; 汪国平

光电工程, 2002, 29 (4): 32, 网络出版: 2007-11-14

表面等离子体共振显微术的空间分辨力

Spatial resolution of surface plasmon interference microscopy

吕强汪国平

作者单位

武汉大学物理系,湖北,武汉,430072

表面等离子体干涉显微术空间分辨力

摘要

对基于相位探测的干涉型表面等离子体显微术(SPIM)和基于强度探测的常规表面等离子体显微术(SPM)的空间分辨力进行了较系统的理论研究和比较,结果表明SPIM具有较高的空间分辨力.在给定的条件下,SPIM的最大纵向分辨力为0.212pm,是SPM的2.15倍.而在纵向分辨力都为2pm的条件下,SPIM的横向分辨力为2.17(m,是SPM的2倍.

Abstract

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吕强, 汪国平. 表面等离子体共振显微术的空间分辨力[J]. 光电工程, 2002, 29(4): 32. 吕强, 汪国平. Spatial resolution of surface plasmon interference microscopy[J]. Opto-Electronic Engineering, 2002, 29(4): 32.