光电工程, 2003, 30 (5): 28, 网络出版: 2007-11-14   

白光干涉法偏振耦合测试及数据采样分析

Measurement of Polarization Coupling with White Light Interferometry and Analysis for Data Sampling
作者单位
1 天津大学精密仪器与光电子工程学院,天津,300072
2 光电信息技术科学教育部重点实验室,天津,300072
摘要
基于白光干涉原理,通过麦克尔逊干涉仪的光程补偿作用,检测保偏光纤空间分布寄生偏振耦合强度和耦合点位置.经数据采样时域理论分析知:扫描步长增大时,耦合强度检测误差和耦合点位置判断误差呈线性增大.扫描步长小于500nm时,强度误差小于5%,位置误差在±11mm之内.
Abstract

唐锋, 井文才, 张以谟, 周革, 李海峰, 满小明, 贾大功. 白光干涉法偏振耦合测试及数据采样分析[J]. 光电工程, 2003, 30(5): 28. 唐锋, 井文才, 张以谟, 周革, 李海峰, 满小明, 贾大功. Measurement of Polarization Coupling with White Light Interferometry and Analysis for Data Sampling[J]. Opto-Electronic Engineering, 2003, 30(5): 28.

本文已被 3 篇论文引用
被引统计数据来源于中国光学期刊网
引用该论文: TXT   |   EndNote

相关论文

加载中...

关于本站 Cookie 的使用提示

中国光学期刊网使用基于 cookie 的技术来更好地为您提供各项服务,点击此处了解我们的隐私策略。 如您需继续使用本网站,请您授权我们使用本地 cookie 来保存部分信息。
全站搜索
您最值得信赖的光电行业旗舰网络服务平台!