光子学报, 2002, 31 (6): 715, 网络出版: 2007-09-18
基于低次插值的红外焦平面器件非均匀性多点校正算法
THE MULTI-POINT NONUNIFORMITY CORRECTION ALGORITHMS FOR IRFPA BASED ON LOW ORDER INTERPOLATION
摘要
提出了分段线性插值和三次样条插值两种基于低次插值的红外焦平面阵列非均匀性多点校正算法,该算法能有效地克服工程上常用的一点和二点校正算法的不足,具有校正精度高、动态范围大、在线计算量小、易于实时实现等优点,并且能有效克服IRFPA各探测单元响应特性的非线性对校正精度的影响.
Abstract
殷世民, 刘上乾. 基于低次插值的红外焦平面器件非均匀性多点校正算法[J]. 光子学报, 2002, 31(6): 715. 殷世民, 刘上乾. THE MULTI-POINT NONUNIFORMITY CORRECTION ALGORITHMS FOR IRFPA BASED ON LOW ORDER INTERPOLATION[J]. ACTA PHOTONICA SINICA, 2002, 31(6): 715.
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