光电工程, 2007, 34 (9): 89, 网络出版: 2008-02-18   

改进的防伪全息标识衍射效率测量系统

Improved system for measuring the diffraction efficiency of holographic anti-counterfeiting label
作者单位
天津大学,精密仪器与光电子工程学院,光电信息技术科学教育部重点实验室,天津,300072
摘要
提出一种激光全息特性参数检测方法.以不稳定度为5%的He-Ne激光器为光源,利用同一光束分成的反射光和透射光光强度比例恒定的性质,实时探测衍射光强与反射光强,得到全息防伪标识的衍射效率.给出了实际入射光强与根据反射光强计算得来的入射光强两者的对比曲线,以及对8版不同样品衍射效率的测量结果.实验数据表明:透射光强测量值相对误差不超过0.29%;衍射效率测量值相对误差最大值不超过0.81%,比原方法测量精度提高近一倍.
Abstract

何瑾, 刘铁根, 孟卓, 杨莉珺. 改进的防伪全息标识衍射效率测量系统[J]. 光电工程, 2007, 34(9): 89. 何瑾, 刘铁根, 孟卓, 杨莉珺. Improved system for measuring the diffraction efficiency of holographic anti-counterfeiting label[J]. Opto-Electronic Engineering, 2007, 34(9): 89.

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