光子学报, 2007, 36 (10): 1909, 网络出版: 2008-02-18   

共焦扫描系统扫描深度与厚度失真分析

Analysis on Depth and Thickness Distortion in Confocal Microscopy
作者单位
中国科学院上海光学精密机械研究所,强场激光物理国家重点实验室,上海,201800
摘要
采用几何光学方法对共焦系统扫描时产生的扫描深度与厚度失真进行了理论分析,对名义扫描深度与实际扫描深度之间的关系进行了研究.以若丹明6G薄膜与玻片组成的多层样品为模型,对其进行了模拟计算,得到了扫描深度与厚度失真与系统数值孔径、折射率和样品厚度之间的关系.在实验上分别采用单光子荧光和双光子荧光作为检测信号,在反射式共焦扫描系统上进行了纵向扫描实验,并与模拟计算的结果进行了比较和分析.
Abstract

周增会, 王桂英, 徐至展. 共焦扫描系统扫描深度与厚度失真分析[J]. 光子学报, 2007, 36(10): 1909. 周增会, 王桂英, 徐至展. Analysis on Depth and Thickness Distortion in Confocal Microscopy[J]. ACTA PHOTONICA SINICA, 2007, 36(10): 1909.

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