光子学报, 2007, 36 (12): 2281, 网络出版: 2008-07-08   

两偏振态测量偏振相关损耗

Measurement of Polarization Dependent Loss by Two SOPs
作者单位
1 华侨大学,信息科学与工程学院,福建,泉州,362021
2 华中科技大学,光电学院,武汉,430074
摘要
基于具有偏振相关损耗和双折射的密勒矩阵洛伦兹变化特性,提出了一种测量偏振相关损耗的新方法.证实了测量偏振相关损耗取决于密勒矩阵的第一列元素.提出了一种实用的测量方法.新方法对于偏振相关损耗的测量只需要两个输入偏振态,因此具有测量速度快和测量误差小的优点,实验的测量结果证实了该方法的可靠性.
Abstract

丁攀峰, 王加贤, 庄其仁, 孙军强. 两偏振态测量偏振相关损耗[J]. 光子学报, 2007, 36(12): 2281. 丁攀峰, 王加贤, 庄其仁, 孙军强. Measurement of Polarization Dependent Loss by Two SOPs[J]. ACTA PHOTONICA SINICA, 2007, 36(12): 2281.

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