应用光学, 2008, 29 (1): 0090, 网络出版: 2010-06-03   

高功率半导体激光器的可靠性与寿命评价

Reliability and lifetime assessment of high-power diode laser
作者单位
信息产业部 电子第五研究所,广东 广州 510610
摘要
介绍了高功率半导体激光器的结构特点、失效机理和热产生机制等方面的内容。就寿命评价方面展开讨论,详细分析了高功率半导体激光器寿命评价的难点、现有方法以及国内外发展状况,最后就寿命评价系统及寿命试验提出了一些建议。高功率半导体激光器在工业加工、**航天等领域的巨大应用前景推动其可靠性与寿命的发展,而其可靠性的提高和寿命的延长会大大拓宽其应用领域。
Abstract
The configuration,failure mechanism and heat generation mechanism of high-power diode laser (HDL) are described. The lifetime assessment is discussed,including the methods used and the difficulties encountered in the assessment. The status quo of such assessment at home and abroad is given. Some suggestions on lifetime assessment and test are given. The development of reliability and lifetime test for high power diode laser is promoted by its application in civilian industry,military and space filed. With the increasing of reliability and lifetime,high power diode laser will find more applications.

雷志锋, 杨少华, 黄云. 高功率半导体激光器的可靠性与寿命评价[J]. 应用光学, 2008, 29(1): 0090. LEI Zhi-feng, YANG Shao-hua, HUANG Yun. Reliability and lifetime assessment of high-power diode laser[J]. Journal of Applied Optics, 2008, 29(1): 0090.

本文已被 3 篇论文引用
被引统计数据来源于中国光学期刊网
引用该论文: TXT   |   EndNote

相关论文

加载中...

关于本站 Cookie 的使用提示

中国光学期刊网使用基于 cookie 的技术来更好地为您提供各项服务,点击此处了解我们的隐私策略。 如您需继续使用本网站,请您授权我们使用本地 cookie 来保存部分信息。
全站搜索
您最值得信赖的光电行业旗舰网络服务平台!