强激光与粒子束, 2007, 19 (11): 1783, 网络出版: 2008-08-17   

高重复频率飞秒激光对面阵CCD的干扰和破坏

Failure of array CCD irradiated by high-repetitive femto-second laser
作者单位
1 国防科学技术大学,光电科学与工程学院,长沙,410073
2 湖南大学,计算机与通信学院,长沙,410073
摘要
采用800 nm,100 fs的超短脉冲激光器对硅面阵CCD进行辐照实验,观测到饱和、串扰以及永久性损伤等多种可能造成成像器件失效的现象,特别是在激光能量较高时,发现CCD在成像时出现了黑白屏的现象.在飞秒激光器以1,10和1 000 Hz工作的条件下,分别测量了硅面阵CCD的饱和阈值、串扰阈值和破坏阈值.对破坏后的CCD器件进行了显微分析.在1 kHz工作的条件下进行了视场外干扰实验,观察到串扰和全屏饱和的现象.
Abstract
作者简介:联系作者:李文煜(1970-),男,副研究员,研究方向为高能激光技术; wyli@nudt.edu.cn.

郭少锋, 程湘爱, 傅喜泉, 孙运强, 王飞, 李文煜, 周玉平, 陆启生, 文双春. 高重复频率飞秒激光对面阵CCD的干扰和破坏[J]. 强激光与粒子束, 2007, 19(11): 1783. 郭少锋, 程湘爱, 傅喜泉, 孙运强, 王飞, 李文煜, 周玉平, 陆启生, 文双春. Failure of array CCD irradiated by high-repetitive femto-second laser[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2007, 19(11): 1783.

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