光电子技术, 2008, 28 (1): 50, 网络出版: 2008-08-17
亚波长结构的抗反射特性三维TLM方法模拟
3D TLM Method Simulation for Antireflection Characteristics of Subwavelength Structures
摘要
传输线矩阵(Transmission line matrix,以下简称TLM)方法,根据场方程和传输线方程之间的相似性,用等效分布传输线网络模拟给定结构,在时间和空间上进行离散化,是一种强有力的三维时域电磁场数值仿真算法.简要介绍三维扩展型结点TLM方法的模型、激励源和边界条件,并使用该方法对亚波长结构的抗反射特性进行模拟研究,为进一步深入探讨该结构的抗反射特性、进行优化设计提供依据.
Abstract
作者简介：王庆康(1962-),男,教授,博士生导师.主要从事微电子及纳米电子的研究.(E-mail:wangqingkang@sjtu.edu.cn)
刘汉玉, 王庆康. 亚波长结构的抗反射特性三维TLM方法模拟[J]. 光电子技术, 2008, 28(1): 50. 刘汉玉, 王庆康. 3D TLM Method Simulation for Antireflection Characteristics of Subwavelength Structures[J]. Optoelectronic Technology, 2008, 28(1): 50.
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