光散射学报, 2015, 27 (4): 0342, 网络出版: 2016-01-20  

拉曼光谱法研究连接体氧化层应力变化及其进展

Development of Raman Spectroscopy for the Determination of Oxidation Stresses in Oxidation Scales Formed on Interconnectors
作者单位
1 北京科技大学钢铁冶金新技术国家重点实验室,北京 100083
2 北京科技大学材料与科学工程学院,北京 100083
摘要
合金连接体是固体氧化物燃料电池重要组件,它的服役状况很大程度上决定着电池的工作寿命。高温氧化过程或者热循环过程中金属氧化层应力的变化是造成氧化层破坏的重要原因,这也是导致合金连接体失效的主要因素。利用拉曼光谱对氧化层应力的在线监测和实验研究可以为改善合金连接体服役年限提供重要依据。本文首先总结了近年来的连接体氧化层应力实验研究工作,分析了氧化层应力产生的原因。并且本文在比较了氧化层应力的测试方法的基础上讨论拉曼光谱法在测试氧化层应力方面的研究方法进展。
Abstract
As an important component of solid oxide fuel cells(SOFCs),alloy interconnector affects the longevity of SOFCs.High temperature oxidation of metal leads to thermal and growth stresses in the metal and oxide,which can broke the oxide and reduce the life time of steel.In situ Raman spectroscopy has in recent years been used as an efficient method to study the stresses in thermally grown oxide layers.This work presents an overview of the study of oxidation stresses in recent years,analyzes the causes of the stress and discusses the development of Raman technique for the determination of oxidation stresses,particularly Cr2O3.

虞自由, 陈志远, 周国治. 拉曼光谱法研究连接体氧化层应力变化及其进展[J]. 光散射学报, 2015, 27(4): 0342. YU Zi-you, CHEN Zhi-yuan, CHOU Kuo-chi. Development of Raman Spectroscopy for the Determination of Oxidation Stresses in Oxidation Scales Formed on Interconnectors[J]. The Journal of Light Scattering, 2015, 27(4): 0342.

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