发光学报, 2018, 39 (3): 383, 网络出版: 2018-04-09   

金属氧化物TFT阈值对LCD显示屏可靠性的影响

Effect of Threshold-voltage of Oxide-TFT on The Reliability of LCD Display
作者单位
1 天马微电子集团, 上海 201205
2 上海大学 新型显示技术及应用集成教育部重点实验室, 上海 200072
摘要
TFT的器件特性是影响氧化物TFT驱动的LCD显示屏良率的关键因素。本文研究了氧化物TFT的关键特性参数 (阈值,稳定性)对窄边框LCD显示屏的良率和可靠性的影响。氧化物TFT阈值过负,将会导致TFT无法正常关断,而使显示屏的外围移位寄存器(VSR)电路失效。另外,在显示区域用于像素驱动的氧化物TFT的高温和背光照射下阈值持续负向漂移,最终会导致显示区域的驱动TFT漏电流过大,从而使显示屏出现串扰和残影不良。
Abstract
The characteristics of TFT are critical to the reliability of metal oxide-TFT drived LCD. The effect of Vth and stability of oxide-TFT to the reliability of narrow-bezel LCD display were researched. The negative Vth of the normal-on oxide-TFT can result in the failure of VSR scan circuits. Others, the negative-shift of the Vth of TFT in pixel at high temperature and under back-light illumination can cause the Vth negative shift and results in the cross-talk or image-sticking because of the high leakage current of TFT.

楼均辉, 姜姝, 吴天一, 符鞠建, 夏兴达, 何泽尚, 迟宵, 应变, 李喜峰. 金属氧化物TFT阈值对LCD显示屏可靠性的影响[J]. 发光学报, 2018, 39(3): 383. LOU Jun-hui, JIANG Shu, WU Tian-yi, FU Ju-jian, XIA Xing-da, HE Ze-shang, CHI Xiao, YING Bian, Li Xi-feng. Effect of Threshold-voltage of Oxide-TFT on The Reliability of LCD Display[J]. Chinese Journal of Luminescence, 2018, 39(3): 383.

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