红外技术, 2018, 40 (7): 701, 网络出版: 2018-08-04  

位测量轮廓术中相位-高度映射系统标定的研究现状

Research Status of Phase-Height Mapping System Calibration in Phase Measurement Profilometry
作者单位
1 苏州大学物理与光电·能源学部,江苏 苏州 215006
2 朝阳广播电视大学,辽宁 朝阳 122000
摘要
相位测量轮廓术在物体三维重建与检测技术中有着广泛的应用,其三维重建过程可分为3 个部分:结构光栅的产生和投影,相位提取与相位展开和相位-高度映射系统标定。相位-高度映射系统标定对三维重建精度起到决定性的作用。因此,相位-高度映射系统标定成为相位测量轮廓术三维重建研究中的热门课题。本文对三维重建和相位测量轮廓术的基本原理做简要介绍,然后详细介绍相位-高度映射系统标定的研究现状。
Abstract
The phase measurement profilometry is widely used in three-dimensional reconstruction and detection of objects. The three-dimensional reconstruction process can be divided into three parts: generation and projection of structure grating, phase extraction and phase unwrapping, and phase-height mapping system calibration. Among them, the phase-height mapping system calibration plays an important role in the reconstruction accuracy. Therefore, it has become a hot topic in the research of three-dimensional reconstruction of phase measurement profilometry. This article briefly introduces the basic principles of three-dimensional reconstruction and phase measurement profilometry and then discusses the current research status of phase-height mapping system calibration in detail.

万安军, 林玉明, 赵勋杰. 位测量轮廓术中相位-高度映射系统标定的研究现状[J]. 红外技术, 2018, 40(7): 701. WAN Anjun, LIN Yuming, ZHAO Xunjie. Research Status of Phase-Height Mapping System Calibration in Phase Measurement Profilometry[J]. Infrared Technology, 2018, 40(7): 701.

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