基于杂化表面等离激元的多层波导布拉格光栅 下载: 5997次
1 引言
随着现代光通信技术的发展,传统的光学器件已难以满足大容量、高速率的数据通信要求。波导布拉格光栅是一种基于脊状光波导制成的光栅,具有结构简单、易于制造、与互补金属氧化物半导体(CMOS)兼容等特点,广泛应用于光滤波器、光开关、光纤传感器和光学耦合器等集成光子器件中[1-6]。作为波导的衍生器件,如何实现更高的集成度、更低的传输损耗是波导布拉格光栅目前遇到的瓶颈。表面等离激元(SPPs)作为一种存在于金属表面区域的特殊电磁波[7],可以使光在模场尺寸上突破衍射极限,获得较长的传输距离。其中,介质/金属/介质(IMI)和金属/介质/金属(MIM)这两类对称型SPPs波导被广泛研究[8-10]。IMI波导在光传播时具有较低的损耗,从而使得传输距离更长,因此又被称作长程表面等离激元光波导,但其横向光场偏大,导致结构无法更加紧凑。MIM波导虽然可以很好地限制光场,但由于损耗大、传输距离短,难以成为制作波导布拉格光栅的性能优异的基础器件。此外,传统的绝缘体上硅(SOI)波导的传输距离很长,被广泛用于制作波导布拉格光栅[11-12]。然而,和IMI波导一样,SOI波导存在模场限制能力较弱的缺陷。针对上述器件存在的不足,张翔教授提出了杂化表面等离激元的波导结构[13]。该结构的光场限制能力强,而且能大幅降低传输损耗,引起了众多研究者的关注[14-16]。但它仍存在光被限制在金属表面而产生额外能量损耗的问题。例如,1550 nm波段下杂化表面等离激元波导的传播距离约为46.7 μm[17]。而传输特性的优劣将直接影响波导布拉格光栅的反射滤波特性。
在此基础上,为了使光栅具有更好的反射滤波特性,针对较小的模场面积、较低的传输损耗和较长的光栅长度,本文提出了一种具有双介质层的多层波导布拉格光栅(MWBG)结构。该结构在杂化表面等离激元波导的基础上,于低折射率介质层与高折射率介质层之间添加一层折射率更低的介质层,形成狭缝波导的结构。利用三种介质之间的折射率差可以将光场进行两次压缩,形成一种独特的狭缝波导效应,使光最终被限制在折射率最低的介质层中传输,从而实现了结构的小型化。同时,由于压缩后的光场与金属之间存在一定的间距,因此降低了杂化表面等离激元波导中额外的能量损耗,使传输距离变长。此外,光栅的周期数越多,对于其滤波特性来说越好,所获得的带宽也越窄。因此,该光栅非常适合用于光滤波器、光纤传感器等集成光学器件的设计研究。
2 端面结构的设计与优化
首先针对MWBG的端面结构进行设计,并在分析过程中优化了结构参数和模场限制能力之间的关系。将x轴设定为波的传输方向,y轴和z轴分别为器件的宽度方向和高度方向。MWBG的端面结构如
图 1. MWBG端面结构和电场分布。(a)端面结构;(b) z向的电场分布;(c) y向的电场分布
Fig. 1. End face structure of MWBG and electric field distribution. (a) Structure; (b) electric field distribution along z direction; (c) electric field distribution along y direction
限制在200 nm×40 nm的区域内,比其他SPPs波导具有更强的电场约束能力[21]。为了更好地说明结构中的电场强度分布,通过设置归一化能量(NOP)来计算波导各层的能量与总能量的比值[16]。电磁能量密度W(r)的表达式为[17]:
式中ω为角频率,ε(r)为相对介电常数,μ0为真空磁导率,E(r)和H(r)为传输过程中的电场和磁场强度,r为位置矢量。通过计算可知,SiO2层、NaF层和Si层的NOP值分别为19.9%、15.8%和12.9%,说明能量主要集中在NaF层,这与模场图中的红色部分相吻合。由此说明该器件能够突破光的衍射极限,可以将光紧紧地限制在仅有几十纳米厚的NaF层内。产生这种纳米级限制能力的主要原因是该狭缝波导首先利用Si与SiO2的高折射率差将光场限制在SiO2层中,再利用NaF与SiO2的折射率差对以杂化等离激元模式存在的光场进行进一步压缩,类似于顶部Si与SiO2相互作用形成的狭缝波导效应,使能量聚集在NaF层内,增强了对模场的限制能力。
有效折射率(neff)是反映光传输模式的主要物理量之一,其实部Re(neff)表示介质对电磁波的色散,而虚部Im(neff)则表示传输过程中电磁波的损耗程度,根据这两个参数可以对结构性能是否优良进行评估。在SiO2层厚度为120 nm的条件下,以10~60 nm作为NaF层厚度的变化范围,对MWBG端面的有效折射率进行分析。如
图 2. NaF层厚度与有效折射率虚部和实部的关系
Fig. 2. Relation of Re(neff) and Im(neff) with the thickness of NaF layer
为了进一步探究MWBG端面结构与模场限制能力、传输距离之间的关系,以有效折射率的虚部Im(neff)、传输距离L、归一化有效模场面积Aeff/A0和品质因子αFOM作为衡量性能的参数,对芯层中两个介质层的厚度进行研究与优化。其中,传输距离表示当电场强度降至初始值的(1/e)2时的传输距离,一般可以用公式L=λ/[4πIm(neff)]计算得出[13,17]。归一化有效模场面积Aeff/A0无纲量,其分母指的是有效模场面积(可以由A0=λ2/4得出),分子则表示衍射极限区域的面积[13],计算公式如下
此外,通过定义品质因子αFOM可以更好地理解优化结果,其表达式为αFOM=L/[Aeff/A0][13]。可以看出,品质因子与传输长度成正比,与归一化模场面积成反比。
图 3. 不同NaF层厚度下,(a)有效折射率虚部、(b)传输距离、(c)归一化有效模场面积以及(d)品质因子随SiO2层厚度的变化规律
Fig. 3. Change rule of Im(neff), L, Aeff/A0 and αFOM with thickness of SiO2 layer at different thicknesses of NaF layer
和有效模场面积分别为178.12 μm和0.203 μm2。可以看出,在同样亚波长级的模场限制下,该结构的传输距离比同类型杂化等离激元波导的传输距离更长[10,16-17,22]。
3 杂化布拉格光栅的设计与分析
第2节对MWBG的端面结构进行了设计与优化,确定了端面结构的基本尺寸,下面对MWBG进行设计与数值仿真分析。利用电子束光刻技术在Si层顶部沿x轴方向刻蚀出规则的起伏形结构(像一个个凹槽),如
式中Λ为光栅的周期长度;m为光栅的阶数;λc为中心波长或布拉格波长;neff1和neff2分别是光栅凹凸所在位置截面的有效折射率,它们的平均数等于端面结构的有效折射率。为了使结构更为简单,槽宽c设定为Λ/2。根据以上的研究可以发现,改变整个波导结构的高度可以影响整个结构的有效折射率。因此,为了获得光栅的周期长度,对Si层的上表面进行z轴方向上的刻蚀,刻蚀深度d设为40 nm,以得到凹凸两个截面的有效折射率。为了保证被刻蚀与未被刻蚀的整体平均尺寸与之前确定的最优端面结构尺寸一致(
通过有限时域差分法(FDTD)对光栅进行仿真分析。在仿真过程中,模式光源的波长范围为1450~1650 nm,其在光栅端面激励的模式如
图 4. (a)xz平面内MWBG布拉格光栅结构和(b)归一化电场分布
Fig. 4. (a) Structure of MWBG Bragg grating and (b) normalized electric field distribution in xz plane
根据耦合波理论和耦合模式方程[24-25]对光栅的反射光谱特性进一步分析。反射率R和反射光谱带宽Δλ可以由下列公式表示:
式中γ为失调量,κ为耦合系数,L'为光栅总长度,β和βc分别为某一波长处的传播常数和布拉格波长处的传播常数,ng为波导群的折射率。当耦合系数κ不变时,在布拉格波长下,光栅的反射率和反射光谱带宽与光栅的总长度相关。因此,为了更好地观察光栅的反射滤波特性,通过减少周期数制作了两个长度不同的布拉格光栅(单元数分别为30和40,相应的光栅总长度为19.36 μm和25.78 μm)。由于仅改变了周期数,所以两个光栅的耦合系数是相同的。用同样的方法来计算其反射光谱,并与所设计的布拉格光栅进行比较。如
图 5. 不同周期数MWBG布拉格光栅的反射光谱
Fig. 5. Reflection spectra of MWBG Bragg grating with different cycle numbers
4 结论
提出了一种基于杂化表面等离激元的双介质层多层波导布拉格光栅。通过基于有限元方法的仿真软件对其端面结构参数进行优化,实验结果表明所提MWBG结构可以提供较强的电场约束,同时也具有相对低的传播损耗(相对于其他杂化表面等离激元波导器件,可以支持178.12 μm的传输距离)。此外,基于良好的传输性能,该MWBG在1550 nm通信波长下的反射率可以达到71.9%,并且其FWHM为23.1 nm。光栅周期数对反射滤波特性也有非常重要的影响,更多的周期数有助于提升波长的选择效果,实现更窄的带宽。该MWBG有希望成为与其他光子器件相兼容并具有实用性的光滤波器和光纤传感器。
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