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像素刻划偏振相机的高精度像素级偏振非均匀性矫正

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摘要

金属纳米线栅是基于像素刻划偏振相机的核心器件,线栅上刻划了与光电探测器像元一一对应的微偏振片阵列,该阵列具有较大的非均匀性,对成像质量有较大影响。针对于这一问题,作者根据纳米线栅的结构与偏振传输理论,推导出纳米线栅像元组级传输矩阵的测量数学模型,并结合矩阵最小二乘法,建立了多次测量以拟合最优传输矩阵的方法。兼顾纳米线栅刻划方式,提出了高空间分辨率的矫正算法。通过作者算法矫正后,偏振相机非均匀性由原来的2 %提升至0.26%。外景成像实验中,目标偏振度图像的信息熵由校正前的5.34提升至15.15。结果表明,作者所提出的算法有效的矫正了纳米线栅的非均匀性,提升了偏振图像质量。

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DOI:10.3788/aos201737.1111002

作者单位:

    长春光机所

引用该论文

孙翯,徐文畅. 像素刻划偏振相机的高精度像素级偏振非均匀性矫正[J].光学学报,2017,37(11):1111002.