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相位测量偏折术中高质量条纹获取研究

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摘要

相位测量偏折术是一种针对镜面物体测量的三维测量技术,该技术通常利用正弦条纹获取待测物体的高度信息。测量误差主要来源于CCD相机获取条纹的噪声。获取高质量的条纹有助于实现高精度测量。 相位测量偏折术中的相位误差主要分为两类:CCD相机的随机误差和由照明体与CCD相机的非线性响应函数导致的非线性误差。本文通过分析这两类误差与条纹质量的关系,建立了条纹质量分析模型。计算机仿真与实验验证了该模型的可靠性与正确性。理论分析、仿真与实验结果表明:获取条纹的对比度与相机镜头光圈数、编码条纹的周期和调制度成正比,获取条纹的正弦性与相机镜头光圈数、编码条纹的周期和调制度成反比。根据上述条纹质量分析模型,优化系统参数可获得高质量的条纹。本文的研究成果同样适用于面结构光三维测量其它技术。

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补充资料

DOI:10.3788/aos201737.1112004

作者单位:

    电子科技大学
    电子科技大学 光电信息学院
    电子科技大学 光电信息学院
    电子科技大学
    电子科技大学光电信息学院
    成都市 建设北路二段四号 电子科技大学光电信息学院

引用该论文

岳慧敏,李绒,潘志鹏,陈红丽,吴雨祥,刘永. 相位测量偏折术中高质量条纹获取研究[J].光学学报,2017,37(11):1112004.