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HgCdTe短波红外焦平面探测器校正技术的研究

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摘要

在短波红外成像光谱技术的应用背景下,对HgCdTe短波红外焦平面探测器进行了一套校正技术研究,包括坏像元校正和非均匀性校正,并提出了先进行坏像元校正后进行非均匀性校正的探测器校正原则。在标准辐射源下,对正常像元的输出值进行正态分布拟合,并通过三σ准则来设定正常像元输出值阈值的方法,确定探测器中坏像元的数量与位置,然后根据短波红外成像光谱技术的应用要求,对坏像元进行光谱二邻域均值替换。坏像元校正完成后再采用运算量小、实时性强的两点法对探测器进行非均匀性校正。综合校正结果显示,探测器坏像元得到有效剔除,坏像元输出值得到良好校正,且非均匀性校正效果明显,图像细节更加丰富。

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补充资料

DOI:10.3788/aos201939.0204001

作者单位:

    中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
    中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
    中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
    中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
    中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
    中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
    中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

引用该论文

陈建军,崔继承,刘嘉楠,刘建利,姚雪峰,杨晋,孙慈. HgCdTe短波红外焦平面探测器校正技术的研究[J].光学学报,2019,39(02):0204001.