HgCdTe短波红外焦平面探测器校正技术的研究 | 网络首发 -- 中国光学期刊网

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光学学报

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2019年第39卷第02期1页

HgCdTe短波红外焦平面探测器校正技术的研究

陈建军 ¹崔继承 ¹刘嘉楠 ¹刘建利 ¹姚雪峰 ¹杨晋 ¹孙慈 ¹

录用时间：2018-09-04

论文栏目

探测器

作者单位

¹ 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

论文摘要

在短波红外成像光谱技术的应用背景下，对HgCdTe短波红外焦平面探测器进行了一套校正技术研究，包括坏像元校正和非均匀性校正，并提出了先进行坏像元校正后进行非均匀性校正的探测器校正原则。在标准辐射源下，对正常像元的输出值进行正态分布拟合，并通过三σ准则来设定正常像元输出值阈值的方法，确定探测器中坏像元的数量与位置，然后根据短波红外成像光谱技术的应用要求，对坏像元进行光谱二邻域均值替换。坏像元校正完成后再采用运算量小、实时性强的两点法对探测器进行非均匀性校正。综合校正结果显示，探测器坏像元得到有效剔除，坏像元输出值得到良好校正，且非均匀性校正效果明显，图像细节更加丰富。

HgCdTe IRFPA 坏像元校正非均匀性校正

引用本文

陈建军, 崔继承, 刘嘉楠, 刘建利, 姚雪峰, 杨晋, 孙慈. HgCdTe短波红外焦平面探测器校正技术的研究[J]. 光学学报, 2019, 39(02): 1.

DOI：10.3788/aos201939.02探测器01

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