非制冷红外焦平面阵列器件的热时间常数测试方法

刘子骥; 赵晟晨; 赵征庭; 李聿达; 郑兴; 张磊

doi:doi:10.3788/irla201948.1204003

红外与激光工程, 2019, 48 (12): 1204003, 网络出版: 2020-02-11

非制冷红外焦平面阵列器件的热时间常数测试方法

A test method of thermal time constant for uncooled infrared focal plane array

刘子骥 ^1,*赵晟晨 ¹赵征庭 ¹李聿达 ¹郑兴 ¹张磊 ²

作者单位

¹ 电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室, 四川成都 610054

² 中国人民解放军63963部队, 北京 100000

补充材料

刘子骥, 赵晟晨, 赵征庭, 李聿达, 郑兴, 张磊. 非制冷红外焦平面阵列器件的热时间常数测试方法[J]. 红外与激光工程, 2019, 48(12): 1204003. Liu Ziji, Zhao Shengchen, Zhao Zhengting, Li Yuda, Zheng Xing, Zhang Lei. A test method of thermal time constant for uncooled infrared focal plane array[J]. Infrared and Laser Engineering, 2019, 48(12): 1204003.