红外与激光工程, 2017, 46 (9): 0921003, 网络出版: 2017-11-17   

SiO2薄膜光学常数物理模型

Physical model of optical constants of SiO2 thin films
作者单位
1 天津津航技术物理研究所 天津市薄膜光学重点实验室, 天津 300308
2 哈尔滨工业大学 光电子技术研究所 可调谐激光技术国防科技重点实验室, 黑龙江 哈尔滨 150080
引用该论文

刘华松, 杨霄, 刘丹丹, 王利栓, 姜承慧, 姜玉刚, 季一勤, 张锋, 陈德应. SiO2薄膜光学常数物理模型[J]. 红外与激光工程, 2017, 46(9): 0921003.

Liu Huasong, Yang Xiao, Liu Dandan, Wang Lishuan, Jiang Chenghui, Jiang Yugang, Ji Yiqin, Zhang Feng, Chen Deying. Physical model of optical constants of SiO2 thin films[J]. Infrared and Laser Engineering, 2017, 46(9): 0921003.

引用列表
1、 脉冲激光沉积法制备红外光学SiC薄膜特性研究红外与激光工程, 2019, 48 (7): 742003
2、 不同沉积方式SiO2薄膜的自然时效特性红外与激光工程, 2019, 48 (5): 521001
3、 离子束溅射宽带吸收薄膜设计与制备技术研究红外与激光工程, 2019, 48 (2): 221003

刘华松, 杨霄, 刘丹丹, 王利栓, 姜承慧, 姜玉刚, 季一勤, 张锋, 陈德应. SiO2薄膜光学常数物理模型[J]. 红外与激光工程, 2017, 46(9): 0921003. Liu Huasong, Yang Xiao, Liu Dandan, Wang Lishuan, Jiang Chenghui, Jiang Yugang, Ji Yiqin, Zhang Feng, Chen Deying. Physical model of optical constants of SiO2 thin films[J]. Infrared and Laser Engineering, 2017, 46(9): 0921003.

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