Ge:SiO<sub>2</sub>的光敏缺陷的研究

金晓峰; 张仲先; 徐森禄; 杨国光

光学学报, 1998, 18 (4): 491, 网络出版: 2006-10-18

Ge:SiO₂的光敏缺陷的研究

Photosensitive Defects in Germania Doped Silica Glasses

金晓峰 ¹张仲先 ²徐森禄 ²杨国光 ²

作者单位

¹ 杭州浙江大学信息与电子工程系, 杭州 310027

² 杭州浙江大学现代光学仪器国家重点实验室, 杭州 310027

基本信息

DOI:	--
中图分类号:	--
栏目:	薄膜
项目基金:	国家自然科学基金资助项目。
收稿日期:	1996-10-25
修改稿日期:	1997-06-02
网络出版日期:	2006-10-18
通讯作者:
备注:	--

金晓峰, 张仲先, 徐森禄, 杨国光. Ge:SiO₂的光敏缺陷的研究[J]. 光学学报, 1998, 18(4): 491. 金晓峰, 张仲先, 徐森禄, 杨国光. Photosensitive Defects in Germania Doped Silica Glasses[J]. Acta Optica Sinica, 1998, 18(4): 491.