光谱学与光谱分析, 2016, 36 (7): 2134, 网络出版: 2016-12-23   

极紫外波段Ar光谱分析在EAST偏滤器杂质屏蔽效应研究中的应用

Application of Extreme-Ultraviolet Ar Spectra Analysis in the Study of Divertor Impurity Screening in EAST Tokamak
作者单位
1 中国科学院等离子体物理研究所, 安徽 合肥 230031
2 中国科学技术大学研究生院科学岛分院, 安徽 合肥 230031
3 General Atomics, P.O. Box 85608, San Diego, California 92186, USA
基本信息
DOI: 10.3964/j.issn.1000-0593(2016)07-2134-05
中图分类号: O657.3
栏目:
项目基金: 国家磁约束核聚变能发展研究专项项目(2014GB124006)和国家自然科学基金项目(11305214, 11105181, 11275231)资助
收稿日期: 2015-05-16
修改稿日期: 2015-10-05
网络出版日期: 2016-12-23
通讯作者: 张鹏飞 (pfzhang@ipp.ac.cn)
备注: --

张鹏飞, 张凌, 许棕, 段艳敏, 吴承瑞, 黄娟, 吴振伟, 郭后扬, 胡立群. 极紫外波段Ar光谱分析在EAST偏滤器杂质屏蔽效应研究中的应用[J]. 光谱学与光谱分析, 2016, 36(7): 2134. ZHANG Peng-fei, ZHANG Ling, XU Zong, DUAN Yan-min, WU Cheng-rui, HUANG Juan, WU Zhen-wei, GUO Hou-yang, HU Li-qun. Application of Extreme-Ultraviolet Ar Spectra Analysis in the Study of Divertor Impurity Screening in EAST Tokamak[J]. Spectroscopy and Spectral Analysis, 2016, 36(7): 2134.

本文已被 1 篇论文引用
被引统计数据来源于中国光学期刊网
引用该论文: TXT   |   EndNote

相关论文

加载中...

关于本站 Cookie 的使用提示

中国光学期刊网使用基于 cookie 的技术来更好地为您提供各项服务,点击此处了解我们的隐私策略。 如您需继续使用本网站,请您授权我们使用本地 cookie 来保存部分信息。
全站搜索
您最值得信赖的光电行业旗舰网络服务平台!