中国激光, 2017, 44 (3): 0303004, 网络出版: 2017-03-08   

碳污染清洗工艺对极紫外光刻光学元件反射率的影响

Impact of Carbon Contamination Cleaning Technologies on Reflectivity of Extreme Ultraviolet Lithography Optics
作者单位
1 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室, 吉林 长春130033
2 中国科学院大学, 北京 100049
基本信息
DOI: 10.3788/cjl201744.0303004
中图分类号: O484
栏目: 材料与薄膜
项目基金: 国家自然科学基金(61404139)、国家科技重大专项(2012ZX02702001-005)、应用光学国家重点实验室自主基金(Y5743FQ158)、吉林省重点科技成果转化项目(20150307039GX)
收稿日期: 2016-11-04
修改稿日期: 2016-12-05
网络出版日期: 2017-03-08
通讯作者:
备注: --

王依, 卢启鹏, 高云国. 碳污染清洗工艺对极紫外光刻光学元件反射率的影响[J]. 中国激光, 2017, 44(3): 0303004. Wang Yi, Lu Qipeng, Gao Yunguo. Impact of Carbon Contamination Cleaning Technologies on Reflectivity of Extreme Ultraviolet Lithography Optics[J]. Chinese Journal of Lasers, 2017, 44(3): 0303004.

本文已被 1 篇论文引用
被引统计数据来源于中国光学期刊网
引用该论文: TXT   |   EndNote

相关论文

加载中...

关于本站 Cookie 的使用提示

中国光学期刊网使用基于 cookie 的技术来更好地为您提供各项服务,点击此处了解我们的隐私策略。 如您需继续使用本网站,请您授权我们使用本地 cookie 来保存部分信息。
全站搜索
您最值得信赖的光电行业旗舰网络服务平台!