基于正交偏振双纵模的氦氖激光器纳米测尺系统

邓勇; 陈康; 李继扬

doi:doi:10.5768/jao201738.0207002

应用光学, 2017, 38 (2): 316, 网络出版: 2017-04-18

基于正交偏振双纵模的氦氖激光器纳米测尺系统

He-Ne laser nanometer ruler system based on orthogonal polarization double longitudinal mode

邓勇 ¹陈康 ¹李继扬 ²

作者单位

¹ 南通大学机械工程学院, 江苏南通 226019

² 北京航空航天大学仪器科学与光电工程学院, 北京 100191

引用该论文

邓勇, 陈康, 李继扬. 基于正交偏振双纵模的氦氖激光器纳米测尺系统[J]. 应用光学, 2017, 38(2): 316.

Deng Yong, Chen Kang, Li Jiyang. He-Ne laser nanometer ruler system based on orthogonal polarization double longitudinal mode[J]. Journal of Applied Optics, 2017, 38(2): 316.

引用列表

1、平行光波阵面调制下的双频干涉条纹形貌测量应用光学, 2017, 38 (6): 947

2、平行光干涉投影三维形貌恢复方法应用光学, 2017, 38 (5): 798

邓勇, 陈康, 李继扬. 基于正交偏振双纵模的氦氖激光器纳米测尺系统[J]. 应用光学, 2017, 38(2): 316. Deng Yong, Chen Kang, Li Jiyang. He-Ne laser nanometer ruler system based on orthogonal polarization double longitudinal mode[J]. Journal of Applied Optics, 2017, 38(2): 316.

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