光学 精密工程, 2009, 17 (1): 27, 网络出版: 2009-10-09  

掠出射微区X射线荧光分析系统的建立及其在薄膜分析中的应用

Grazing exit micro X-ray spectrometer and its application to film analysis
作者单位
1 北京师范大学 射线束技术与材料改性教育部重点实验室核科学与技术学院 北京市辐射中心,北京 100875
2 中国科学院 高能物理研究所,北京 100039
3 Department of Applied Chemistry, Graduate School of Engineering, Osaka City University, Sugimoto 3-3-138, Sumiyoshi-ku Osaka 558-8585, Japan
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