北京工业大学生命科学与生物医学工程学院, 智能化生理测量与临床转化北京市国际科技合作基地, 北京 100024
并行受激发射损耗(STED)显微术采用周期性排列的光学格子作为荧光抑制图案并行实现多点荧光擦除,可以有效地提升显微成像的时间分辨率。本文建立了并行STED显微成像系统的简化光学系统模型,在此基础上推导出受光学参数影响的并行荧光擦除图案周期公式,来阐明辅助物镜及显微物镜对该周期的影响机理。由该公式,解出了能产生更小周期并行荧光擦除图案的最优光学参数。数值仿真结果显示,本文方法能产生出周期小至276 nm×276 nm的正方形网格状并行荧光擦除图案。
显微 荧光显微镜 并行受激发射损耗 荧光擦除图案 光学系统参数 数值仿真 激光与光电子学进展
2020, 57(9): 091801
1 清华大学精密仪器与机械学系, 北京 100084
2 清华大学精密测试技术及仪器国家重点实验室, 北京 100084
在对影响星敏感器精度的误差源做出权重分析和比较的基础上，提出一种基于蒙特卡罗模拟的星敏感器精度误差分析方法，避免冗长和繁琐的理论推导，直观且系统地分析了星敏感器误差传播关系，建立星敏感器误差传播模型，为星敏感器的优化设计、标定补偿提供依据和准则，通过仿真验证误差传播模型及误差分析方法的准确性，为高精度星敏感器的设计制造提供重要基础和保证。
光学器件 误差模型 光学系统参数 星敏感器精度 蒙特卡罗方法
