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 受激发射损耗显微中数值孔径对偏振光聚焦特性的影响

张弘 冯继宏 张森

[摘要]受激发射损耗(STED)显微可以打破衍射极限,观测到小于200 nm 的细胞器内部结构。利用径向偏振光通过大数值孔径(NA)成像可以提高STED 系统的分辨率。计算了径向偏振光径向光强分布和纵向光强分布,并分析了数值孔径变...

 PDF全文激光与光电子学进展 | 2016, 53(04):041101

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