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   将选定结果: 

 并行STED显微中光学系统对荧光擦除图案的影响

张硕晨 冯继宏

[摘要]并行受激发射损耗(STED)显微术采用周期性排列的光学格子作为荧光抑制图案并行实现多点荧光擦除,可以有效地提升显微成像的时间分辨率。本文建立了并行STED显微成像系统的简化光学系统模型,在此基础上推导出受光学参数...

 PDF全文激光与光电子学进展 | 2020, 57(09):091801

 受激发射损耗显微中数值孔径对偏振光聚焦特性的影响

张弘 冯继宏 张森

[摘要]受激发射损耗(STED)显微可以打破衍射极限,观测到小于200 nm 的细胞器内部结构。利用径向偏振光通过大数值孔径(NA)成像可以提高STED 系统的分辨率。计算了径向偏振光径向光强分布和纵向光强分布,并分析了数值孔径变...

 PDF全文激光与光电子学进展 | 2016, 53(04):041101

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