中国光学, 2016, 9 (6): 695, 网络出版: 2016-12-06   

小型绝对式光电编码器误码自动检测系统

Automatic detection system of fault code for small size absolute photoelectric encoder
作者单位
1 中国科学院 长春光学精密机械与物理研究所, 吉林 长春130033
2 中国科学院大学, 北京100049
摘要
在批量生产光电编码器时, 对光电编码器是否存在误码进行检测是一个重要的环节。现有的检测方法采用二进制灯排手动转动编码器用肉眼进行观测, 存在手动检测慢、肉眼观测误差较大、检测结果受转动速度影响等缺点。在大批量生产的光电编码器, 采用传统方法进行误码检测费时费力。为解决编码器生产及使用过程中对光电编码器的自动误差检测, 本文设计了小型光电编码器误码自动检测系统。首先, 在参照大量光电编码器生产经验的基础上, 分析了编码器误码产生的主要原因; 然后, 提出了基于微分算法实现对光电编码器是否存在误码进行判断的误码自动检测方法; 最后, 以FPGA为主控芯片, 设计了小型光电编码器自动误码检测系统。该系统能够实现对光电编码器的高速数据采集、数据处理与误码判断, 并将误码判断结果通过LCD液晶显示。同时, 可以根据需要将数据传输到计算机中作进一步分析。检测实验表明: 本文所设计的误码检测系统成功实现了对15位串/并口光电编码器在高速和低速下进行数据采集及误码判断。系统可用于批量生产下光电编码器的误码自动检测, 减少了人工操作, 提高了自动化程度。系统具有智能便捷, 移动性强, 适用于实验室及各种工作场合下的误码检测等优点, 检测速度较以往检测方法提高了3~5倍。
Abstract
Error detection is an important procedure during large quantity production of photoelectric encoder. At present, such error is mostly detected manually by judging sequences from binary LED arrays. This method is of low efficiency and extra error due to manual work, especially when large quantity is concerned. Given the defects of current methods, an auto-detection system for photoelectric encoder is designed in this paper. Firstly, the main reasons for the error are analyzed, and then an auto-detection method is proposed by adopting differential after referring to present works method. Lastly, an auto-detection system is established, utilizing a FPGA control chip. The system is capable of swift data acquisition and procession and its outcomes can be transported to a computer or displayed on a LCD. Experimental results show that the system is suitable for 15 bit series or parallel interface in different speeds. The system is intelligent, swift, portable and suitable for laboratory and other work situations, and the detection efficiency has been improved by 3-5 times.

董静, 万秋华, 于海, 卢新然. 小型绝对式光电编码器误码自动检测系统[J]. 中国光学, 2016, 9(6): 695. DONG Jing, WAN Qiu-hua, YU Hai, LU Xin-ran. Automatic detection system of fault code for small size absolute photoelectric encoder[J]. Chinese Optics, 2016, 9(6): 695.

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