%0 Journal Article %T 532 nm激光对面阵和线阵CCD损伤效应实验研究 %O Laser Technology %A 廖海 %A 孙年春 %A 冯国英 %A 周传明 %J 激光技术 %@ 1001-3806 %V 34 %N 5 %D 2010 %P 643-646 %K 激光技术;损伤阈值;饱和串音;面阵CCD;线阵CCD %X 为了研究面阵CCD和线阵CCD由结构差异所致激光损伤效应的区别,针对这两种类型CCD器件进行了机理分析和对比实验研究。分别测量出波长为532nm的激光对线阵CCD和面阵CCD图像传感器的光饱和串音阈值、所有像素串音阈值和硬损伤阈值。结果表明,面阵CCD的光饱和串音阈值和永久破坏阈值比线阵CCD低,而串音扩散到所有像素的阈值高于后者。反映出线阵CCD由于其1维结构更能抵抗激光的干扰和破坏,而面阵CCD在抵御饱和串音在像素间扩散上比线阵CCD有优势。 %R %U http://www.opticsjournal.net/Articles/Abstract?aid=OJ100925000204HeKgNj %W 中国光学期刊网 %1 JIS Version 3.0.0