近日，瑞士的研究人员提出了一种方法来检索关于粒子在深亚波长尺度上的形状、大小和位置的信息。纳米技术急切需要一种简单、无创、远场的光学技术，其能够提供关于单个纳米颗粒的形状和尺寸的精确信息，以便监测和使用依赖其尺寸的特性。最直接的方法是将纳米颗粒置于光学显微镜下，通过利用倏逝场的指数衰减，研究人员可以提取粒子的亚波长信息。 Xi等研究人员提出了一种方案来反演纳米颗粒在玻璃基板上的尺寸参数，其大小比波长小得多。这是通过使用两个平面波来照亮粒子来产生丰富的和异常的局部偏振分布，并观察在衬底中的远场散射模式来实现的。利用这种方式来控制复合偶极矩的诱导，辐射到超临界区域的功率的指数衰减以及由于自旋-轨道耦合引起的定向散射可以被用来直接从远端散射中检索粒子的形状、大小和位置并且具有高灵敏度，不需要复杂且耗时的优化算法。研究人员的方法是基于矢量光与纳米颗粒的相互作用，从而提出了这种远场超分辨纳米测量方案。

图1 所考虑的2D系统的几何结构。

图2 所考虑的3D系统的几何结构。

原文链接：https://journals.aps.org/prl/abstract/10.1103/PhysRevLett.120.253901

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