双线扫描CCD测量远距离闪光点平均高度

蔡怀宇; 杨光; 李秀明; 朱猛; 黄战华

doi:doi:10.3969/j.issn.1003-501x.2015.05.001

光电工程, 2015, 42 (5): 1, 网络出版: 2015-09-08

双线扫描CCD测量远距离闪光点平均高度

Mean Height of Long Distance Burst Measurement Based on Double High Speed Line Scanning CCD

蔡怀宇 ^*杨光李秀明朱猛黄战华

作者单位

天津大学精密仪器与光电子工程学院光电信息技术教育部重点实验室 (天津大学 ), 天津 300072

图 & 表

蔡怀宇, 杨光, 李秀明, 朱猛, 黄战华. 双线扫描CCD测量远距离闪光点平均高度[J]. 光电工程, 2015, 42(5): 1. CAI Huaiyu, YANG Guang, LI Xiuming, ZHU Meng, HUANG Zhanhua. Mean Height of Long Distance Burst Measurement Based on Double High Speed Line Scanning CCD[J]. Opto-Electronic Engineering, 2015, 42(5): 1.