光电成像检测系统像面照度均匀性分析 | 应用光学 -- 中国光学期刊网

应用光学, 2014, 35 (2): 260, 网络出版: 2014-04-09

光电成像检测系统像面照度均匀性分析

Illuminance uniformity of image plane in photoelectronic image testing system

赵霞 ^*刘宾

作者单位

中北大学电子测试技术国家重点实验室, 山西太原 030051

引用该论文

赵霞, 刘宾. 光电成像检测系统像面照度均匀性分析[J]. 应用光学, 2014, 35(2): 260.

ZHAO Xia, LIU Bin. Illuminance uniformity of image plane in photoelectronic image testing system[J]. Journal of Applied Optics, 2014, 35(2): 260.

引用列表

1、视频内窥镜MTF自动测量系统光学与光电技术, 2017, 15 (2): 62

2、大视场线阵CCD图像灰度均匀化光电工程, 2015, 42 (7): 62

赵霞, 刘宾. 光电成像检测系统像面照度均匀性分析[J]. 应用光学, 2014, 35(2): 260. ZHAO Xia, LIU Bin. Illuminance uniformity of image plane in photoelectronic image testing system[J]. Journal of Applied Optics, 2014, 35(2): 260.

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