应用光学, 2014, 35 (2): 260, 网络出版: 2014-04-09
光电成像检测系统像面照度均匀性分析
Illuminance uniformity of image plane in photoelectronic image testing system
基本信息
DOI: | 10.5768/jao201435.0203001 |
中图分类号: | TP394.1;TH691.9 |
栏目: | |
项目基金: | -- |
收稿日期: | 2013-07-29 |
修改稿日期: | 2013-11-15 |
网络出版日期: | 2014-04-09 |
通讯作者: | 赵霞 (zhaoxianuc@126.com) |
备注: | -- |
赵霞, 刘宾. 光电成像检测系统像面照度均匀性分析[J]. 应用光学, 2014, 35(2): 260. ZHAO Xia, LIU Bin. Illuminance uniformity of image plane in photoelectronic image testing system[J]. Journal of Applied Optics, 2014, 35(2): 260.