液晶与显示, 2015, 30 (2): 213, 网络出版: 2015-04-14
扭曲向列相薄盒中线缺陷的研究
Study of line defects in a thin twisted nematic cell
有序重构 扭曲向错线 双轴性参数 Landau-de Gennes 理论 order reconstruction twist disclination line biaxial parameter Landau-de Gennes theory
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