光电工程, 2016, 43 (1): 0055, 网络出版: 2016-03-22   

全反射式宽光谱成像椭偏仪

All-reflective Broadband Spectroscopic Imaging Ellipsometer
作者单位
1 合肥工业大学 仪器科学与光电工程学院,合肥 230009
2 中国科学院微电子研究所 微电子器件与集成技术重点实验室,北京 100029
基本信息
DOI: 10.3969/j.issn.1003-501x.2016.01.010
中图分类号: O436.3
栏目: 光电测量与检测
项目基金: 中国科学院科研装备研制项目(28Y3YZ018001)
收稿日期: 2015-01-28
修改稿日期: 2015-04-23
网络出版日期: 2016-03-22
通讯作者: 姜春光 (chunguangj@163.com)
备注: --

姜春光, 谌雅琴, 刘涛, 熊伟, 李国光, 纪峰. 全反射式宽光谱成像椭偏仪[J]. 光电工程, 2016, 43(1): 0055. JIANG Chunguang, CHEN Yaqin, LIU Tao, XIONG Wei, LI Guoguang, JI Feng. All-reflective Broadband Spectroscopic Imaging Ellipsometer[J]. Opto-Electronic Engineering, 2016, 43(1): 0055.

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