光电工程, 2016, 43 (1): 0055, 网络出版: 2016-03-22   

全反射式宽光谱成像椭偏仪

All-reflective Broadband Spectroscopic Imaging Ellipsometer
作者单位
1 合肥工业大学 仪器科学与光电工程学院,合肥 230009
2 中国科学院微电子研究所 微电子器件与集成技术重点实验室,北京 100029
引用该论文

姜春光, 谌雅琴, 刘涛, 熊伟, 李国光, 纪峰. 全反射式宽光谱成像椭偏仪[J]. 光电工程, 2016, 43(1): 0055.

JIANG Chunguang, CHEN Yaqin, LIU Tao, XIONG Wei, LI Guoguang, JI Feng. All-reflective Broadband Spectroscopic Imaging Ellipsometer[J]. Opto-Electronic Engineering, 2016, 43(1): 0055.

参考文献

[1] ZHAO Yuan,SHENG Mingyu,ZHENG Yuxiang,et al. Accurate analysis of ellipsometric data for thick transparent films [J]. Chinese Optics Letters(S1671-7694),2011,9(5):053101.

[2] JIN Gang,Tengvall P,Lundstr m I,et al. A Biosensor Concept Based on Imaging Ellipsometry for Visualization of biomolecular interactions [J]. Analytical Biochemistry(S0003-2697),1995,232(1):69-72.

[3] JIN Gang,Jansson R,Arwin H. Imaging ellipsometry revisited:Developments for visualization of thin transparent layers on silicon substrates [J]. Review of Scientific Instruments(S0034-6748),1996,67(8):2930-2936.

[4] SONG Guozhi,CHEN Yaqin,LIU Tao,et al. DUV broadband spectroscopic ellipsometer based onall-reflective focusing optical system [C]// Instrumentation,Measurement,Computer,Communication and Control (IMCCC),Shenyang, China,Sep 21-23,2013:492-495.

[5] Tompkins H G,Irene E A. Handbook of Ellipsometry [M]. Berlin:Springer,2005:1-855.

[6] 徐鹏,刘涛,王林梓,等. 样品校准法在单波长椭偏仪中的应用 [J]. 光学学报,2013,33(4):0412002.

    XU Peng,LIU Tao,WANG Linzi,et al. Calibration method for single wavelength ellipsometer using standard samples [J]. Acta Optica Sinica,2013,33(4):0412002.

[7] JIN Gang,CHEN Yanyan. Refractive index and thickness analysis of natural silicon dioxide film growing on silicon with variable-angle spectroscopic ellipsometry [J]. Spectroscopy(S0887-6703),2006,21(10):26-31.

姜春光, 谌雅琴, 刘涛, 熊伟, 李国光, 纪峰. 全反射式宽光谱成像椭偏仪[J]. 光电工程, 2016, 43(1): 0055. JIANG Chunguang, CHEN Yaqin, LIU Tao, XIONG Wei, LI Guoguang, JI Feng. All-reflective Broadband Spectroscopic Imaging Ellipsometer[J]. Opto-Electronic Engineering, 2016, 43(1): 0055.

本文已被 1 篇论文引用
被引统计数据来源于中国光学期刊网
引用该论文: TXT   |   EndNote

相关论文

加载中...

关于本站 Cookie 的使用提示

中国光学期刊网使用基于 cookie 的技术来更好地为您提供各项服务,点击此处了解我们的隐私策略。 如您需继续使用本网站,请您授权我们使用本地 cookie 来保存部分信息。
全站搜索
您最值得信赖的光电行业旗舰网络服务平台!