光电工程, 2011, 38 (1): 39, 网络出版: 2011-02-28
基于Shack-Hartmann 的子孔径拼接波前检验技术
Wave-front Test by Sub-aperture Stitching Technique Based on Shack-Hartmann Wave-front Sensor
基本信息
DOI: | -- |
中图分类号: | TN247 |
栏目: | 空间光学 |
项目基金: | -- |
收稿日期: | 2010-08-12 |
修改稿日期: | 2010-09-12 |
网络出版日期: | 2011-02-28 |
通讯作者: | |
备注: | -- |
吴晶, 王建立, 林旭东. 基于Shack-Hartmann 的子孔径拼接波前检验技术[J]. 光电工程, 2011, 38(1): 39. WU Jing, WANG Jian-li, LING Xu-dong. Wave-front Test by Sub-aperture Stitching Technique Based on Shack-Hartmann Wave-front Sensor[J]. Opto-Electronic Engineering, 2011, 38(1): 39.