基于Shack-Hartmann 的子孔径拼接波前检验技术

吴晶; 王建立; 林旭东

光电工程, 2011, 38 (1): 39, 网络出版: 2011-02-28

基于Shack-Hartmann 的子孔径拼接波前检验技术

Wave-front Test by Sub-aperture Stitching Technique Based on Shack-Hartmann Wave-front Sensor

吴晶 ^1,2王建立 ¹林旭东 ^1,2

作者单位

¹ 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，长春 130033

² 中国科学院研究生院, 北京100039

图 & 表

吴晶, 王建立, 林旭东. 基于Shack-Hartmann 的子孔径拼接波前检验技术[J]. 光电工程, 2011, 38(1): 39. WU Jing, WANG Jian-li, LING Xu-dong. Wave-front Test by Sub-aperture Stitching Technique Based on Shack-Hartmann Wave-front Sensor[J]. Opto-Electronic Engineering, 2011, 38(1): 39.