基于超薄金属薄膜的超宽频太赫兹分束器 下载: 794次
1 引言
太赫兹波具有光子能量低、穿透性强等优点,在材料科学、生物医学、天文观测、无损检测、通信以及**等领域具有巨大的应用前景[1]。学者们一般将太赫兹波看成超远红外波,主要采用光学方式对其进行控制处理[2]。光的分束在光学系统中十分常见,在基于光学方式处理的太赫兹光路中,实现太赫兹波的分束十分迫切。
实现太赫兹分束的传统方式主要分为两类。一类是基于金属光栅结构的太赫兹偏振分束器[3]。通过金属结构使分束后的两束太赫兹波呈现正交偏振态,但该器件只适用于偏振光路中,限制了其应用范围。另一类非偏振的太赫兹分束器主要有以下实现方式。其一是采用聚酯薄膜[4-5],即利用一定厚度的聚酯薄膜双面干涉共振获得反射透射分束,其优点是分束效率高,缺点是不同频率范围需采用的聚酯薄膜厚度不同,对于频率范围极宽的太赫兹波段而言,只采用一种厚度的聚酯薄膜无法实现整个太赫兹频段的分束。其二是采用高折射率的硅片[6],即利用硅片与空气的高折射率差,通过双面的共同作用,可在很宽的频率范围内获得能量比接近1∶1的反射透射分束比,然而此种太赫兹分束的方式对太赫兹波入射角度、硅片厚度有严格要求,且其光谱间隔必须大于硅片干涉频率间隔。其三是在很薄的聚酯薄膜表面镀上一层微米量级的锗膜[7],即通过高折射率的锗膜与聚酯薄膜共同作用,实现宽频太赫兹分束;虽然该器件不受分辨率限制,但锗膜在聚酯薄膜表面的应力较大,易发生碎裂,导致器件可靠性不高。
本文提出了一种以聚酯薄膜作为支撑的超薄金属Cr薄膜太赫兹分束器,利用金属Cr薄膜的高电导率控制太赫兹波的透射率与反射率。采用的金属Cr薄膜和聚酯薄膜的厚度小,可避免器件内部发生干涉,因此分束响应频率范围极宽,器件结构与性能稳定,且无光谱分辨率限制。基于传输矩阵理论,建立了该分束器的理论模型,分析了金属Cr薄膜和聚酯薄膜厚度对分束性能的影响,并以12.5 μm厚的聚酯薄膜为支撑,制作了不同厚度的金属Cr薄膜分束器,在太赫兹时域光谱系统中获得了与理论分析吻合的实验测试结果,该研究为无偏振宽频太赫兹分束的实现提供了参考。
2 分束结构与理论
图 1. 超薄金属薄膜的超宽频太赫兹分束结构示意图
Fig. 1. Schematic of ultrawide-band terahertz splitting structure based on ultrathin metallic films
为了分析该器件的结构参数,采用传输矩阵理论建立其分束模型。建立了
式中
令
式中
式中
式中
由(2)式可得,1,2,3层组合后的导纳为
在s偏振和p偏振的共同作用下,太赫兹分束器的平均反射率
在获得了器件的反射率与透射率后,其太赫兹分束比
太赫兹波的入射角度设置为45°。在s偏振和p的共同作用下,分析金属Cr薄膜和聚酯薄膜厚度对太赫兹分束性能的影响情况。由(9)~(11)式获得了理论结果,如
图 2. 理论结果。(a)(d)反射率;(b)(e)透射率;(c)(f)分束比
Fig. 2. Theoretical results. (a)(d) Reflectivity; (b)(e) transmissivity; (c)(f) splitting ratio
3 实验与分析
在理论分析的基础上,选择厚度为(12.5±0.1) μm的聚酯薄膜作为衬底,该厚度的聚酯薄膜不仅柔性好,且力学支撑性优异,不易发生塑性变形,便于器件制作。然后在其表面溅射不同厚度的金属Cr薄膜,最后采用环形支撑支架将其绷平,以获得实验测量器件。
太赫兹分束实验测试采用是太赫兹时域光谱系统(THz-TDS,T-Ray5000,API公司,美国),该系统为线偏系统,通过旋转THz-TDS的发射和接收探头方向改变太赫兹波的偏振态。在透射模式下,以镜架固定的太赫兹金属Cr薄膜分束器与THz-TDS光轴成45°夹角,以空气为参考获得不同厚度分束器的透射率。在反射模式下,THz-TDS的发射和接收探头成90°,太赫兹金属Cr薄膜分束器与入射和反射太赫兹波均成45°,以金属反射镜为参考获得不同厚度分束器的反射率。测量结果分别如
图 3. 实验结果。(a)反射率;(b)透射率
Fig. 3. Experimental results. (a) Reflectivity; (b) transmissivity
根据实验结果,在所测量的频率范围内,计算得到了该太赫兹分束器的理论平均分束比
图 4. 不同金属Cr薄膜厚度下的平均分束比
Fig. 4. Average splitting ratios under different thicknesses of metallic Cr films
4 结论
提出了以聚酯薄膜支撑的超薄金属Cr薄膜太赫兹分束器,对该太赫兹分束器进行了理论分析和实验制备与测试,理论上证明了其在0.1~20 THz范围内可获得良好的太赫兹分束性能,实验测试结果表现出了与理论结果一致的变化趋势,确定了金属Cr薄膜厚度为7~11 nm时,器件可获得1∶1的分束比。因其超宽的工作频段、无光谱分辨率限制、无偏振选择性和优异的力学稳定性能等特点,该太赫兹分束器在太赫兹光路系统中具有重要的实用价值。
[1] 周永军, 张辉, 张宣妮, 等. 基于太赫兹时域谱烟支湿度密度检测的实验研究[J]. 激光与光电子学进展, 2016, 53(1): 013001.
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[2] 张兴宁, 陈稷, 周泽魁. 太赫兹时域光谱技术[J]. 激光与光电子学进展, 2005, 42(7): 35-38.
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[8] 唐晋发, 顾培夫, 刘旭, 等. 现代光学薄膜技术[M]. 杭州: 浙江大学出版社, 2006: 20- 29.
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TangJinfa, GuPeifu, LiuXu, et al.Modern optical thin film technology[M]. Hangzhou: Zhejiang University Press, 2006: 20- 29.
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