太赫兹科学与电子信息学报, 2019, 17 (6): 1045, 网络出版: 2020-02-24
设备级线缆强电磁辐照敏感度仿真分析
Simulation analysis of cable harsh electromagnetic irradiation susceptibility about electronics
基本信息
DOI: | 10.11805/tkyda201906.1045 |
中图分类号: | TN806 |
栏目: | 电磁场与微波 |
项目基金: | -- |
收稿日期: | 2018-01-10 |
修改稿日期: | 2018-07-31 |
网络出版日期: | 2020-02-24 |
通讯作者: | 刘恩博 (liueb@grgtest.com) |
备注: | -- |
刘恩博, 李智深, 陈旗, 张钰. 设备级线缆强电磁辐照敏感度仿真分析[J]. 太赫兹科学与电子信息学报, 2019, 17(6): 1045. LIU Enbo, LI Zhishen, CHEN Qi, ZHANG Yu. Simulation analysis of cable harsh electromagnetic irradiation susceptibility about electronics[J]. Journal of terahertz science and electronic information technology, 2019, 17(6): 1045.