极小孔径衍射波前测试分析
[1] SOMMARGREN G E, PHILLION D W, JOHNSON M A, et al.. 100-picometer interferometry for EUVL[J]. SPIE, 2002,4688:316-328.
[2] GOLDBERG K A, TEJNIL E, LEE S H, et al.. Characterization of an EUV Schwarzschild objective using phase-shifting point diffraction interferometry[J]. SPIE,1997,3048:264-270.
[3] 张海涛. 基于光学设计软件的相移点衍射干涉仪建模[J]. 中国光学, 2010, 3(6): 616-622.
[4] 于杰. 用于相移点衍射干涉仪的加权最小二乘相位提取算法[J]. 中国光学, 2010, 3(6): 605-615.
[5] TOSHIAKI M, SATORU O, TAKAAKI N, et al.. Measurement accuracy in phase-shifting point diffraction interferometer with two optical fibers[J]. Optical Review, 2007, 14(6): 401-405.
[6] 卢增雄, 金春水, 马冬梅, 等. 微小孔偏差对远场波前质量影响分析[J]. 光学学报, 2011, 31(8): 0812002.
[7] 马强, 刘伟奇, 李香波, 等. 点衍射干涉仪中小孔衍射波面误差分析[J]. 光学学报, 2008, 28(12): 2321-2324.
[8] 张宇, 金春水, 马冬梅, 等.点衍射干涉仪波前参考源标定算法的研究[J].中国激光, 2012,39(3) :0308001.
[9] DIRKSEN P, BRAAT J J M, JANSSEN A J E M, et al.. Aerial image based lens metrology for wafer steppers[J]. SPIE, 2006,6154:61540X.
[10] 马冬梅, 陈土泉. 点衍射波前位相的测评[J]. 光学精密工程, 2010, 18(11):2390-2397.
[11] 邵晶,马冬梅. 点衍射干涉仪基准波前测试技术研究[J]. 中国激光, 2011, 38(5):0508003.
[12] DIRKSENA P, BRAATB J, JANSSEN A J E M, et al.. Aberration retrieval using the extended Nijboer-Zernike approach[J]. Journal of Microlithography, Microfabrication and Microsystems, 2003, 2(1): 61-68.
邵晶, 马冬梅, 张海涛, 于杰, 周烽. 极小孔径衍射波前测试分析[J]. 光学 精密工程, 2014, 22(10): 2639. SHAO Jing, MA Dong-mei, ZHANG Hai-tao, YU Jie, ZHOU Feng. Evaluation of wavefront diffracted from ultra small aperture[J]. Optics and Precision Engineering, 2014, 22(10): 2639.