1 哈尔滨理工大学测控技术与通信工程学院, 黑龙江 哈尔滨 150080
2 哈尔滨理工大学测控技术与仪器黑龙江省高校重点实验室, 黑龙江 哈尔滨 150080
3 哈尔滨理工大学应用科学学院, 黑龙江 哈尔滨 150080
为解决近红外光谱快速检测乳品成分及含量时光谱数据的预处理问题, 提出一种基于直方图分层映射技术的近红外光谱主成分得分重置(SR)预处理方法。以葡萄糖氯化钠水溶液三组分样品中的葡萄糖含量、鲜牛奶样品中的乳糖含量为定量检测目标, 进行散射光谱主成分得分累计贡献率的分层分段规定化映射预处理, 利用偏最小二乘(PLS)回归分析建模手段, 对相应近红外光谱中的糖含量信息进行测试及分析。结果表明, 经过SR预处理后, 牛奶中乳糖含量PLS模型的校正集样品交互验证预测偏差降低23.9%, 实际预测偏差降低27.8%; 验证集实际预测偏差降低16.7%。该SR光谱预处理方法兼顾光谱、参考值及组分相关性等多尺度信息, 以实现光谱信息增强去噪, 能避免有用信息误删, 防止不充分拟合及过拟合。
光谱学 光谱分析 光谱预处理 主成分得分重置 直方图分层映射 激光与光电子学进展
2017, 54(9): 093001
同济大学 精密光学工程技术研究所 物理系, 上海 200092
用小波变换的方法分析了纳米多层膜的X射线掠入射反射率测试曲线.从小波变换的自相关函数峰位和峰强度信息中得到了常规曲线拟合方法难以表征的含有氧化层、界面层或厚度漂移的多层膜结构, 利用其作为多层膜的初始结构再进行常规的曲线拟合, 可实现多层膜结构精确表征的目的.研究成功地鉴别出钒单层膜的表面存在约3 nm厚的氧化层,分析得到Mo/Si多层膜的界面纯粗糙度约0.42 nm,表明在Ni/C多层膜中接近表面和基底的膜层存在大于5%的厚度漂移.
薄膜光学 纳米多层膜 小波变换 自相关函数 氧化层 界面粗糙度 厚度漂移 Thin film optics Nanometer multilayer Wavelet transform Auto-correlation function Oxide layer Interfacial roughness Thickness fluctuation
