基于近红外光谱法对组织内的异质体进行无创检测时, 光源-探测器(S-D)相对于异质体的位置对检测效果有着重要影响。 为实现对组织内异质体的快速定位, 该研究基于一源多探的检测结构针对不同水平位置、 不同深度和不同直径的异质体进行光密度分布有限元分析, 计算各探测器之间的差分光密度差异。 仿真实验结果表明, 根据多探测器形成的差分光密度差异曲线可快速定位组织内异质体的水平位置。 曲线的高斯拟合特征量与异质体的水平位置、 深度和直径有着强相关性。 基于差分光密度差异曲线可以实现组织内感兴趣区域的快速定位, 对采用近红外光谱法的组织肿瘤检测、 光学脑功能成像等领域的源-探位置放置提供重要参考, 提高其检测精度。

非全视场条件下测试物体辐射特性时，背景干扰是影响其准确性的最关键因素。根据普朗克辐射定律，通过方法研究和公式推导消除背景干扰，建立了非全视场条件下目标辐射特性的测试和计算方法。在此基础上，采用SR-5000N光谱辐射计，在全视场和非全视场两种模式下开展铝板和碳纳米管(MWCNTs)复合涂层的红外光谱发射率测试实验，进一步验证该测试计算方法的有效性。结果表明，在非全视场条件下，尤其在测定高发射率目标时，该方法得到的样品红外发射率与全视场条件下的测试结果数据较为一致，可基本反映样品的真实光谱特性，有效解决了视场大小对目标辐射特性测试的局限，拓展其应用领域。